鋼研納克取得X射線熒光光譜儀干系專利，完因素光光路的長程主動調試

金融界2023年11月21日消息，據國度知識產權局告示，鋼研納克檢測武藝股份僅限公司取得一項名為“X射線熒光光譜儀的分光光路主動調試與校正體系及辦法”，受權告示號CN108152313B，哀求日期為2017年12月。

專利擇要體現，本創造觸及一種用于排序式波長色散X射線熒光光譜儀的分光光路主動調試與校正體系及辦法。體系包含利用界面模塊、晶體架控制模塊、測角儀θ軸與2θ軸高精度步進電機控制模塊、探測器數據收羅模塊、數據圖像處理模塊；體系選擇被測元素譜線作為標定測角儀的基準譜線，經過布拉格方程盤算出晶體掠射角與探測器出射角，將測角儀的θ軸與2θ軸旋轉到指定地點，經過控制安裝在θ軸與2θ軸的步進電機、晶體架、探測器完成對晶體與探測器地點的主動調停，取得晶體校正因子，從而對晶體掠射角與探測器出射角舉行校正。本創造完成對分光光路的長程主動調試，保護調試職員免受X射線輻射，變小對換試職員調試履歷的依托，提高伐試聽從與精度。

本文源自金融界